Kako prepoznati dislokaciju?
1. Transmisijska elektronska mikroskopija (TEM):
- TEM je široko korištena tehnika za izravnu vizualizaciju dislokacija.
- Tanak uzorak se zrači snopom elektrona visoke energije, a propušteni elektroni se koriste za formiranje slike.
- Dislokacije se pojavljuju kao linijski defekti ili nepravilnosti u kristalnoj rešetki.
2. Skening elektronska mikroskopija (SEM):
- SEM je još jedna tehnika snimanja koja može otkriti prisutnost iščašenja.
- U SEM-u, fokusirana elektronska zraka skenira površinu uzorka, a emitirani sekundarni elektroni se detektiraju kako bi se stvorila slika.
- Iščašenja se mogu promatrati kao površinske stepenice ili nepravilnosti.
3. Rendgenska difrakcija:
- Rendgenska difrakcija je nedestruktivna tehnika koja se koristi za proučavanje kristalne strukture materijala.
- Dislokacije mogu uzrokovati iskrivljenja u kristalnoj rešetki, što dovodi do promjena u uzorcima difrakcije X-zraka.
- Analizom tih promjena mogu se identificirati i karakterizirati iščašenja.
4. Tehnike bakropisa:
- Jetkanje je kemijski proces kojim se selektivno uklanja materijal s površine uzorka.
- Dislokacije mogu poslužiti kao preferirana mjesta za jetkanje, što dovodi do stvaranja udubljenja.
- Udubine se mogu promatrati optičkom mikroskopijom i pružiti informacije o položaju i gustoći dislokacija.
5. Ultrazvučne tehnike:
- Ultrazvučni valovi mogu djelovati s dislokacijama, uzrokujući njihovo vibriranje i generiranje akustičnih signala.
- Analizom akustičkih signala može se utvrditi prisutnost i karakteristike dislokacija.
6. Elektrotehnike:
- U određenim materijalima dislokacije mogu utjecati na električna svojstva kao što su vodljivost i koncentracija nositelja.
- Mjerenjem ovih električnih promjena mogu se identificirati i proučavati dislokacije.
Važno je napomenuti da specifična tehnika koja se koristi za identifikaciju dislokacija može varirati ovisno o materijalu i prirodi dislokacija koje se istražuju.
