Inovacija imaging x-ray spektrometra?
CCD (uređaj s spregnutim nabojem) i CMOS (komplementarni metal-oksid-poluvodič) dvije su vrste poluvodičkih tehnologija koje se obično koriste u slikovnim rendgenskim spektrometrima. Ovi detektori sastoje se od niza piksela koji pretvaraju fotone rendgenskih zraka u električne signale. Glavna prednost CCD i CMOS detektora je njihova visoka prostorna rezolucija, koja omogućuje stvaranje detaljnih slika izvora x-zraka.
2. Vremenski razlučni slikovni rendgenski spektrometri
Rentgenski spektrometri s vremenskom rezolucijom mogu snimiti rendgenske slike visoke vremenske rezolucije. To omogućuje proučavanje dinamičkih procesa, kao što su kemijske reakcije ili transformacije materijala, u stvarnom vremenu. Rentgenski spektrometri s vremenskom rezolucijom obično se temelje na CCD ili CMOS detektorima, ali također mogu koristiti druge vrste detektora, kao što su streak kamere ili gated pojačivači.
3. Hiperspektralni slikovni rendgenski spektrometri
Hiperspektralni slikovni rendgenski spektrometri daju ne samo prostorne informacije, već i spektralne informacije za svaki piksel na slici. To omogućuje identifikaciju i kvantifikaciju različitih elemenata i spojeva unutar uzorka. Hiperspektralni slikovni rendgenski spektrometri obično se temelje na CCD ili CMOS detektorima, ali također mogu koristiti druge vrste detektora, kao što su disperzivni spektrometri ili rešetkasti spektrometri.
4. 3D imaging X-ray spektrometri
3D slikovni rendgenski spektrometri sposobni su stvoriti trodimenzionalne slike izvora rendgenskih zraka. To omogućuje vizualizaciju unutarnje strukture objekata i proučavanje složenih struktura u tri dimenzije. Rendgenski spektrometri s 3D slikom obično se temelje na CCD ili CMOS detektorima, ali mogu koristiti i druge vrste detektora, kao što su CT skeneri sa stožastim snopom ili mikro-CT skeneri.
5. Spektrometri rendgenske fluorescentne slike
Spektrometri rendgenske fluorescencije (XRF) koriste princip fluorescencije rendgenskih zraka za stvaranje slika elementarnog sastava uzorka. Kada zraka x-zraka pogodi uzorak, može uzrokovati emisiju sekundarnih x-zraka koje su karakteristične za elemente prisutne u uzorku. XRF slikovni spektrometri detektiraju i analiziraju te sekundarne x-zrake kako bi stvorili mape elemenata uzorka.
Ovo je samo nekoliko primjera inovacija u tehnologiji slikovnog rendgenskog spektrometra. Kako se tehnologija nastavlja razvijati, nove i moćnije tehnike snimanja bit će dostupne za širok raspon primjena u znanosti, industriji i medicini.
